HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試

HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情
本HAST（Highly Accelerated Stress Test，高加速應力測試）老化箱是一款專為評估芯片封裝可靠性而設(shè)計的精密測試設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕及高壓環(huán)境，在短時間內(nèi)加速材料老化與失效過程，是半導體行業(yè)進行產(chǎn)品壽命預測和質(zhì)量控制的關(guān)鍵設(shè)備。

用途
主要用于集成電路、半導體芯片、封裝組件（如FC-BGA、SiP、WLCSP等）的可靠性驗證與失效分析。可執(zhí)行JESD22-A110等標準HAST測試，評估封裝體在潮濕環(huán)境下的抗腐蝕能力、引線鍵合強度、材料界面穩(wěn)定性等，顯著縮短傳統(tǒng)高溫高濕測試所需時間。

HAST老化箱 用于芯片封裝可靠性測試

技術(shù)參數(shù)

• 溫濕度范圍：溫度105℃~142℃（常用130℃/140℃），濕度75%RH~100%RH（非飽和/飽和蒸汽）

• 壓力范圍：0.02MPa~0.3MPa

• 升溫時間：約40分鐘內(nèi)從常溫升至142℃（空載）

• 內(nèi)箱尺寸：常見定制容積20L~100L（標準型為50L）

• 控制精度：溫度±0.5℃，濕度±2.5%RH，壓力±1kPa

• 安全防護：超壓自動泄壓、缺水保護、過流保護、機械式安全閥

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 外箱：采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，表面靜電噴涂，耐腐蝕。

• 內(nèi)箱：全部采用SUS304不銹鋼板，無縫焊接，耐高溫高壓腐蝕。

• 保溫層：高性能玻璃纖維棉，確保熱效率與箱體表面低溫安全。

• 密封：雙道硅橡膠耐高溫柔性密封條，保證高壓下的密封性。

• 樣品架：不銹鋼多層可調(diào)支架，承重性強，易于存取。

產(chǎn)品特點

1. 高效加速：運用非飽和加壓蒸汽原理，較傳統(tǒng)THB測試效率提升數(shù)倍。

2. 精準控制：采用高精度溫濕度傳感器與PID+SSR控制系統(tǒng)，確保測試條件精確穩(wěn)定。

3. 安全可靠：具備多重硬件與軟件安全聯(lián)鎖，門體帶壓力自鎖裝置，泄壓前無法開啟。

4. 人性化操作：大尺寸觸摸屏，圖形化界面，支持程序編輯、數(shù)據(jù)存儲與USB導出。

5. 低運行成本：優(yōu)化設(shè)計的蒸汽發(fā)生系統(tǒng)與隔熱結(jié)構(gòu)，耗水量與耗電量低。

風道系統(tǒng)
采用頂部水平送風、底部回風的科學循環(huán)風道。配置大功率長軸電機和多翼式離心風機，搭配耐高溫風輪，確保箱內(nèi)溫濕度場高度均勻（均勻度可達±1℃以內(nèi)）。風道與加熱器、加濕器集成設(shè)計，實現(xiàn)快速響應與穩(wěn)定循環(huán)。

安裝與調(diào)試
設(shè)備為落地式，需放置于平整、通風良好的實驗室環(huán)境，預留散熱空間。用戶需準備符合要求的電源（通常為AC380V）和純水/去離子水水源。我司提供上門安裝、調(diào)試服務，并對用戶進行現(xiàn)場操作與日常維護培訓，確保設(shè)備即刻投入可靠使用。

售后服務
提供整機一年保修，關(guān)鍵部件（如控制器、傳感器）延保服務。全國主要城市設(shè)有服務網(wǎng)點，提供快速響應技術(shù)支持、定期巡檢與校準服務。終身提供備件供應與優(yōu)惠的有償維修服務。